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指纹锁方案-指纹锁性能

发布日期:2024-05-20 16:41浏览次数:

自从有了小黑盒子、橘皮事件,人们对指纹锁产生了怀疑,就这样就能把锁打开,指纹锁的性能也太差了吧。其实这跟指纹锁主板的电子元器件和系统有关,指纹锁系统在设计之初就要考虑这些问题,且要经过严格的测试及验证。指纹锁一般需要做如下几个实验,确保指纹锁系统及功能正常。

实验设备.jpg

老化24小时

通电24小时,让其工作,目的是检测系统的稳定性

静电测试±30KV

接触式与非接触式静电(低-高)测试,目的是检测静电大小,对电子元器件及系统的干扰。

高低温-25~60℃ 循环3次

在高低温交替的环境中,检测主板的性能。目的是环境温度不同,高低温对电子元器件及功能有何影响。

小黑盒子

干扰强度不一的盒子对指纹锁进行干扰测试,目的是检测指纹锁抗干扰性能

工程测试

功能、功耗、各项参数对比记录(工作电压、电流、报警电压、指纹识别速度、静态电流)

跌落实验

指纹锁主板从1M自由落体。目的是检测主板在运输、组装、安装是否会对产品功能有所影响。



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